发明名称 |
用至少两个不同的门限等级分拣颗粒状物体的方法和装置 |
摘要 |
用光照射以连续形式流动的颗粒状物体,利用为了检测颗粒状物体的第一级缺陷部位而确定的预定亮度的门限值对来自一个固体成象装置的图像元素信号进行二进制量化,还用一个为了检测第二级缺陷部位而确定的预定亮度的门限值对上述图像元素信号进行二进制量化。能够有效地弹出具有虽然尺寸很小但却影响产品价值的重着色部位的颗粒状物体。 |
申请公布号 |
CN1288156A |
申请公布日期 |
2001.03.21 |
申请号 |
CN00127025.7 |
申请日期 |
2000.09.11 |
申请人 |
株式会社佐竹制作所 |
发明人 |
佐竹觉;伊藤隆文;惠木正博 |
分类号 |
G01N21/85;G01N21/88;G01J3/46;B07C5/342;G06T1/00;G06T7/00 |
主分类号 |
G01N21/85 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
陈霁;傅康 |
主权项 |
1.用于分拣颗粒状物体的方法包括以下步骤:在颗粒状物体以连续的形式流动并且受到光照的同时用一个具有多个图像元素的固体成象器件提取图像;用一个为检测第一级颗粒状物体的有缺陷部位而确定的预定亮度门限值对来自上述固体成象器件的图像元素信号进行二进制量化;从二进制量化图像元素信号中检测有缺陷图像元素信号;在连续的缺陷图像元素信号超过预定数量时确定为有缺陷,并且在这种信号没有超过预定数量时取消有缺陷图像信号;以及对已经确定有缺陷的那些颗粒状物体执行颗粒状物体分拣程序。 |
地址 |
日本东京都 |