发明名称 | 光学系统光远场参量的检测装置 | ||
摘要 | 一种光学系统光远场参量的检测装置。主要包含中心轴线上置有光纤探针的具有三维粗细调的光纤扫描器,光纤探针在被测样品的焦点上及焦点前后的位置上进行扫描,它将接收到的光信号传送给光电探测器,再经锁相放大器输入计算机。计算机通过高压放大器控制光纤探针扫描。具有对被测样品光远场的高精度和实时给出光参量的两维或三维分布的特点。 | ||
申请公布号 | CN2423581Y | 申请公布日期 | 2001.03.14 |
申请号 | CN00217937.7 | 申请日期 | 2000.06.08 |
申请人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明人 | 徐文东;孙洁林;林强;干福熹 |
分类号 | G01N21/17;G01M11/00 | 主分类号 | G01N21/17 |
代理机构 | 上海华东专利事务所 | 代理人 | 李兰英 |
主权项 | 1.一种光学系统光远场参量的检测装置,包括:光源(1),光电探测器(6)和 计算机(8),其特征在于: &#601&#62在光源(1)发射光束(G)前进的方向上,中心轴线(O<sub>1</sub>O<sub>1</sub>)与光源(1)的光轴 (OO)相重合地置有光纤扫描器(3),被测样品(2)置于光源(1)与光纤扫描器(3)之间; &#602&#62光纤扫描器(3)内的中心轴线(O<sub>1</sub>O<sub>1</sub>)上置有针尖(401)对着光源(1)发射光 束(G)前进方向的光纤探针(4); &#603&#62光纤探针(4)的光纤(404)将光束传送到光电探测器(6)上,光电探测器(6) 的输出通过锁相放大器(7)放大后输入到计算机(8)上; &#604&#62计算机(8)控制高压放大器(5)的高压输出到光纤扫描器(3)上。 | ||
地址 | 201800上海市800-211邮政信箱 |