发明名称 |
同频多信号测向与侦收的方法和装置 |
摘要 |
本发明公开了一种同频多信号测向与侦收的方法和装置,依据一阶带通采样定理的采样时延原理仅在基于传感阵列处理的测向机中增加可控时延产生电路,即可利用幅度加权求和得到所需形状的方向性图,实现同频多信号的测向与侦收。本发明装置由天线阵列、多信道接收机、主控处理器、频率综合器、可控时延产生器、监控计算机等部分组成。并本发明还具有设备简单,性能可靠,制作容易,使用方便,成本低廉等特点。$#! |
申请公布号 |
CN1063267C |
申请公布日期 |
2001.03.14 |
申请号 |
CN97118773.8 |
申请日期 |
1997.10.15 |
申请人 |
电子工业部第五十四研究所 |
发明人 |
刘建华 |
分类号 |
G01S3/04 |
主分类号 |
G01S3/04 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1.一种同频多信号测向与侦收的方法,包括步骤:(1)以一阶带通采样定理中的采样时延理论为基础实现信道输出信号的移相控制;(2)利用基于传感阵列处理的测向技术对同频多信号测向;其特征在于还包括以下技术措施步骤:(1)根据测向信道中的本振及中频频率选择采样信号频谱为正向放置或反向放置;(2)根据信号频谱的正向或反向放置和所需测向、侦收的信号带宽,选择一阶带通采样频率;(3)根据系统的侦收方向性图的精度要求选择可控时延的步进;(4)利用基于传感阵列处理的测向技术对同频多信号进行测向,根据测向结果选择有用信号和干扰信号,按此计算可控采样时延单元的时延并进行控制;(5)修正时延对信道一致性的影响继续进行测向;(6)利用幅度加权求和形成所需形状的波束,并进行侦收处理及侦收。 |
地址 |
050081河北省石家庄市中山西路589号电子部第54所技术处 |