| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten, mit einer Auswerteelektronik, einem Grundraster, das in einem regelmäßigen Raster in einer Grundrasterebene angeordnete Kontaktpunkte aufweist, die elektrisch mit der Auswerteelektronik verbunden sind, so daß Leiterplattentestpunkte einer zu prüfenden Leiterplatte, die mittels eines Adapters und/oder eines Translators mit den Kontaktpunkten des Grundrasters in Verbindung bringbar sind, elektrisch abgetastet werden können, wobei mehrere Kontaktpunkte des Grundrasters elektrisch miteinander verbunden sind. Die Erfindung zeichnet sich dadurch aus, daß die Vorrichtung mehrere Grundrasterleiterplatten aufweist, die jeweils eine Kontaktpunktschmalseitenfläche besitzen, an der die Kontaktpunkte angeordnet sind, und mit Leiterbahnen versehen sind, die jeweils mit mehreren Kontaktpunkten elektrisch verbunden sind und eine zu einem Anschlußkontakt zum Anschließen der Auswerteelektronik führende elektrische Anschlußverbindung aufweisen, so daß mehrere Kontaktpunkte elektrisch mit einem Anschlußkontakt verbunden sind, und die Grundrasterleiterplatten mit ihren Kontaktpunktschmalseitenflächen in der Grundrasterebene zur Ausbildung des Grundrasters angeordnet sind. <IMAGE></p> |
