发明名称 用于多埠记忆体装置之读取操作的滙流排连接电路及多埠记忆体装置
摘要 提供一种半导体记忆体设计技术,特别是一种用于一多埠记忆体装置之读取操作的汇流排连接电路。上述汇流排连接电路系适用于一电流感测型汇流排传送/接收结构。上述汇流排连接电路包括:一读取资料感测/闩锁单元,用以感测/闩锁一供应至一区域资料汇流排之读取资料,以回应一读取资料选通信号;以及一读取资料驱动单元,用以将闩锁在上述读取资料感测/闩锁单元中之资料驱动至一总体资料汇流排,以回应一读取资料驱动脉冲,及用以依据上述闩锁资料之逻辑位准连接或断开一流经上述总体资料汇流排之电流的路径。
申请公布号 TWI287234 申请公布日期 2007.09.21
申请号 TW093118432 申请日期 2004.06.25
申请人 海力士半导体股份有限公司 发明人 辛范柱
分类号 G11C7/00(2006.01) 主分类号 G11C7/00(2006.01)
代理机构 代理人 何金涂 台北市大安区敦化南路2段77号8楼;林荣琳 台北市大安区敦化南路2段77号8楼
主权项 1.一种用于一多埠记忆体装置之读取操作的滙流 排连接电路,包括: 一读取资料感测/闩锁装置,用以感测/闩锁一施加 至一区域资料滙流排之读取资料,以回应一读取资 料选通信号;以及 一读取资料驱动装置,用以将闩锁在该读取资料感 测/闩锁装置中之资料驱动至一总体资料滙流排, 以回应一读取资料驱动脉冲,及用以依据该闩锁资 料之逻辑位准连接或断开一流经该总体资料滙流 排之电流的路径。 2.如申请专利范围第1项所述之滙流排连接电路,其 中该读取资料感测/闩锁装置包括: 一差动-输入正反器,用以感测/闩锁供应至该区域 资料滙流排上之读取资料,以回应该读取资料选通 信号; 一传送反向器,配置用以接收该差动-输入正反向 器之差动输出信号;以及 一反向闩锁器,用以闩锁该传送反向器之输出。 3.如申请专利范围第1项所述之滙流排连接电路,其 中该读取资料驱动装置包括: 一第一NMOS电晶体,连接至一接地电压端及具有一 接收该读取资料驱动脉冲之闸极;以及 一第二NMOS电晶体,连接于该第一NMOS电晶体与该总 体资料滙流排之间及具有一接收该读取资料感测/ 闩锁装置之输出的闸极。 4.如申请专利范围第2项所述之滙流排连接电路,其 中该差动-输入正反器包括: 一第一MOS电晶体,连接至一接地电压端及具有一接 收该读取资料选通信号之闸极; 第二及第三MOS电晶体,连接至该第一MOS电晶体之一 端及具有接收供应至个别传送滙流排之信号的闸 极;以及 第四至第七MOS电晶体,交互耦接至非反向/反向输 出端,藉此建构一反向闩锁器。 5.如申请专利范围第4项所述之滙流排连接电路,其 中该差动-输入正反器更包括第八至第九MOS电晶体 ,用以在该读取资料选通信号之非启动区段期间预 充电该非反向/反向输出端。 6.如申请专利范围第4项所述之滙流排连接电路,其 中该差动-输入正反器更包括一第一反向器,用以 将经由该非反向/反向输出端输出之信号反向。 7.如申请专利范围第6项所述之滙流排连接电路,其 中该传送反向器包括: 一PMOS电晶体,连接于该传送反向器之一内部电压 端与一输出端之间,及具有一接收经由该反向输出 端输出之信号的闸极;以及 一NMOS电晶体,连接于该传送反向器之接地电压端 与输出端及具有一接收该第一反向器之输出的闸 极。 8.如申请专利范围第7项所述之滙流排连接电路,其 中该反向闩锁器包括两个连接至该传送反向器之 输出端的反向器。 9.如申请专利范围第1项所述之滙流排连接电路,其 中该读取资料感测/闩锁装置系有效地耦接至该多 埠记忆体装置所包含之排组。 10.一种多埠记忆体装置,包括: 一排组,包含多数单元及感测放大器,用以经由一 区域资料滙流排来输出一读取资料; 一读取资料感测/闩锁装置,用以感测/闩锁一施加 至一区域资料滙流排之读取资料,以回应一读取资 料选通信号;以及 一读取资料驱动装置,用以将闩锁在该读取资料感 测/闩锁装置中之资料驱动至一总体资料滙流排, 以回应一读取资料驱动脉冲,及用以依据该闩锁资 料之逻辑位准连接或断开一流经该总体资料滙流 排之电流的路径。 11.如申请专利范围第10项所述之多埠记忆体装置, 其中该读取资料感测/闩锁装置包括: 一差动-输入正反器,用以感测/闩锁供应至该区域 资料滙流排上之读取资料,以回应该读取资料选通 信号; 一传送反向器,配置用以接收该差动-输入正反向 器之差动输出信号;以及 一反向闩锁器,用以闩锁该传送反向器之输出。 12.如申请专利范围第11项所述之多埠记忆体装置, 其中该读取资料驱动装置包括: 一第一NMOS电晶体,连接至一接地电压端及具有一 接收该读取资料驱动脉冲之闸极;以及 一第二NMOS电晶体,连接于该第一NMOS电晶体与该总 体资料滙流排之间及具有一接收该读取资料感测/ 闩锁装置之输出的闸极。 13.如申请专利范围第11项所述之多埠记忆体装置, 其中该差动-输入正反器包括: 一第一MOS电晶体,连接至一接地电压端及具有一接 收该读取资料选通信号之闸极; 第二及第三MOS电晶体,连接至该第一MOS电晶体之一 端及具有接收供应至个别传送滙流排之信号的闸 极;以及 第四至第七MOS电晶体,交互耦接至非反向/反向输 出端,藉此建构一反向闩锁器。 14.如申请专利范围第13项所述之多埠记忆体装置, 其中该差动-输入正反器更包括第八至第九MOS电晶 体,用以在该读取资料选通信号之非启动区段期间 预充电该非反向/反向输出端。 15.如申请专利范围第13项所述之多埠记忆体装置, 其中该差动-输入正反器更包括一第一反向器,用 以将经由该非反向/反向输出端输出之信号反向。 16.如申请专利范围第15项所述之多埠记忆体装置, 其中该传送反向器包括: 一PMOS电晶体,连接于该传送反向器之一内部电压 端与一输出端之间,及具有一接收经由该反向输出 端输出之信号的闸极;以及 一NMOS电晶体,连接于该传送反向器之接地电压端 与输出端及具有一接收该第一反向器之输出的闸 极。 17.如申请专利范围第16项所述之多埠记忆体装置, 其中该反向闩锁器包括两个连接至该传送反向器 之输出端的反向器。 图式简单说明: 第1图描述韩国专利申请案第2003-92375号所揭露之 一256M多埠DRAM的架构: 第2图系描述在第1图之256M多埠DRAM中一区段及一传 送滙流排TB的方块图; 第3A图描述第2图所述之256M多埠DRAM的一正规读取 路径; 第3B图描述第2图所述之256M多埠DRAM的一正规写入 路径; 第4A图描述第2图所述之256M多埠DRAM的一交互读取 路径; 第4B图描述第2图所述之256M多埠DRAM的一交互写入 路径; 第5图描述韩国专利申请案第2003-94697号所揭露之 一发送器及一接收器的电路结构; 第6图描述第5图所示之电路的模拟结果; 第7图描述依据本发明一实施例之用于一多埠DRAM 的读取操作之滙流排连接电路;以及 第8图系第7图所示之电路的时序图。
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