发明名称 轮叫测试器
摘要 在轮叫测试器中,设有一冗余电路,其在预定的正常单元定址时会启动正常单元而使冗余单元成为非主动,并且在预定的冗余单元定址时会使正常单元成为非主动而段动冗余单元。此种结构可实现轮叫测试器而同时消除使用冗余侦测电路与有关其侦测之信号之需要,并且可减低晶片面积。
申请公布号 TW425569 申请公布日期 2001.03.11
申请号 TW088109342 申请日期 1999.06.03
申请人 电气股份有限公司 发明人 三根浩二;越川 康二;延时知子
分类号 G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人 周良谋 新竹巿东大路一段一一八号十楼;周良吉 台北市长春路二十号三楼
主权项 1.一种轮叫测试器,其包含:一资料放大器,用以在正常单元或冗余单元启动时放大正常单元或冗余单元之资料,并且输出放大资料至资料输出电路;一资料放大器启动电路,无关乎轮叫测试是否在操作中而用以输出资料放大器启动信号至资料放大器;一测试信号启动电路,用以在轮叫测试之时输出有效的轮叫测试信号;以及一冗余电路,当测试信号启动电路中之轮叫测试信号系非有效时,于预定的正常单元定址之际,该冗余电路会启动正常单元而使冗余单元成为非主动,并且在预定的冗余单元定址之际,会使正常单元成为非主动而启动冗余单元;然而当在测试信号启动电路中轮叫测试信号系有效时,在预定的正常单元定址时,该冗余电路会启动正常单元而使冗余单元成为非主动,并且在预定的冗余单元定址时,会使正常单元与冗余单元二者皆成为非主动。2.如申请专利范围第1项之轮叫测试器,其中该冗余电路包含第一逻辑闸,该第一逻辑闸接收预定的冗余单元位址信号以及从测试信号启动电路而来之非有效的轮叫测试信号,并且输出冗余选择信号。3.一种轮叫测试器,其包含:资料放大器,用以在正常单元或冗余单元启动时放大正常单元或冗余单元之资料,并且输出放大资料至资料输出电路;测试信号启动电路,用以在轮叫测试之时输出有效的轮叫测试信号;第二逻辑闸,当测试信号启动电路之轮叫测试信号系非有效时,该第二逻辑闸会经由资料放大器启动电路启动资料放大器;以及冗余电路,当测试信号启动电路中之轮叫测试信号系非有效时,该冗余电路会经由第二逻辑闸启动资料放大器,并且在预定的正常单元定址时会启动正常单元而使冗余单元成为非主动,并且在预定的冗余单元定址时会使正常单元成为非主动而启动冗余单元,然而当在测试信号启动电路中轮叫测试信号系有效时,在预定的正常单元定址时,该冗余电路会启动正常单元而使冗余单元成为非主动,并且经由第二逻辑闸启动资料放大器,并且在预定的冗余单元定址时,会使正常单元与冗余单元二者皆成为非主动并且经由第二逻辑闸使资料放大器成为非主动。4.如申请专利范围第3项之轮叫测试器,其中第二逻辑闸系NAND闸。5.如申请专利范围第1或2项之轮叫测试器,其中在资料放大器故障时,冗余是否正在使用系由下列方法加以判断:使任意资料先保持于正常单元与冗余单元中,并且在该资料读取时,使用记忆测试器来判断当所期望的値并未从冗余单元输出时,所期望的値是从未被冗余单元取代之正常单元中输出。图式简单说明:第一图之方块图系显示习知的轮叫测试器;第二图之时序表系显示第一图所示之每一方块中之资料;第三图之方块图系显示依据本发明较佳实施例之轮叫测试器;第四图之时序表系显示第三图所示之每一方块中之资料;第五图之失效位元对映图系显示用以在第三图所示之资料放大器故障时判断冗余是否正在使用之方法;第六图之另一失效位元对映图系显示用以在第三图所示之资料放大器故障时判断冗余是否正在使用之方法;第七图之方块图系显示依据本发明另一实施例之轮叫测试器;第八图之时序表系显示第七图所示之每一方块中之资料。
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