| 主权项 |
1.一种输出缓冲器电路,包含: 第1反相器,由第1导电型的第1电晶体与第2导电型 的第2电晶体构成; 第2反相器,由第1导电型的第3电晶体与第2导电型 的第4电晶体构成; 切换电路,因应于测试控制信号供给于该第1电晶 体与第2电晶体各自的闸极处,切换驱动能力, 该第1与第2反相器的输出端子接在一起,因应于输 入信号之供给而输出预定信号位准的输出信号, 其特征在于尚包含: 一工作循环比调整电路,因应于前述输入信号之位 准改变,控制前述第1与第2电晶体各自的闸极,使得 前述输出信号由第1位准改变到第2位准的第1延迟 时间与由第2位准改变到第1位准的第2延迟时间约 相等,因而使前述输出信号波形之第1与第2位准的 持续时间比,即工作循环比保持为约50%。2.如申请 专利范围第1项之输出缓冲器电路,其中该切换电 路具有因应于前述测试控制信号之供给而遮断前 述输入信号的传输闸。3.如申请专利范围第1项之 输出缓冲器电路,其中该工作循环比调整电路包含 : 第1与第2逻辑电路,对前述测试控制信号与输入信 号进行逻辑运算,并分别输出第1与第2逻辑信号; 第2导电型之第5电晶体,汲极连接于前述第1电晶体 之闸极,源极接地,闸极接受前述第1逻辑信号之供 给;及 第2导电型之第6电晶体,汲极连接于前述第2电晶体 之闸极,源极接地,闸极接受前述第2逻辑信号之供 给。4.如申请专利范围第1项之输出缓冲器电路,尚 具有:移位电路,当前述输入信号与测试控制信号 的振幅较前述输出信号的振幅小的情况,将前述输 入信号与测试控制信号的振幅昇压至前述输出信 号的振幅。图式简单说明: 第一图表示本发明之输出缓冲器电路的第1实施型 态之电路图; 第二图的时间图用以表示本实施型态之输出缓冲 器电路的动作之一例; 第三图的时间图表示在第2类HSTL介面之输出缓冲 器使用本实施型态的输出缓冲器电路之情况下,输 出输入波形之一例: 第四图表示本发明之输出缓冲器电路的第2实施型 态之电路图; 第五图表示习知的第1输出缓冲器电路之一例的电 路图; 第六图的时间图表示习知的第1输出缓冲器电路之 动作的一例; 第七图表示第2类HSTL介面之构成的方块图; 第八图的时间图表示在第2类HSTL介面之输出缓冲 器使用习知的第1输出缓冲器电路之情况下,输出 输入波形之一例; 第九图表示习知的第2输出缓冲器电路之一例的电 路图; 第十图表示习知的第3输出缓冲器电路之一例的电 路图; 第十一图表示移位电路之构成的电路图; 第十二图的时间图表示移位电路之动作的一例; 第十三图表示第3类SSTL介面之构成的方块图。 |
