发明名称 | 铟镓氮单晶薄膜金属有机物气相外延生长技术 | ||
摘要 | 本发明是一种MOCVD法制备高荧光效率的铟镓氮单晶薄膜的生长技术,在高温下生长铟镓氮单晶薄膜,同时进行Si和Zn共掺杂,实现高效蓝光发射。GaN和InGaN可在相同温度下生长;避免了在器件结构生长过程中的升降温过程,减少了生长工艺上的困难;简化了工艺;提高了生长的可控性和重复性;生长的InGaN材料发光强度强;具有高的生长速率,缩短了生长时间,从而提高了材料的利用率。可适用于含InGaN的光发射二极管和激光器等光电器件的制备技术领域。$#! | ||
申请公布号 | CN1062917C | 申请公布日期 | 2001.03.07 |
申请号 | CN98103568.X | 申请日期 | 1998.08.12 |
申请人 | 北京大学 | 发明人 | 童玉珍;张国义 |
分类号 | C30B23/02 | 主分类号 | C30B23/02 |
代理机构 | 北京大学专利事务所 | 代理人 | 余长江 |
主权项 | 1.一种铟镓氮单晶薄膜金属有机物气相外延生长技术,采用ZL95101275.4 MOCVD设备,高纯H<sub>2</sub>为载气,反应室的压力在整个生长过程中控制在0.1~0.5 个大气压,其步骤包括: 1)蓝宝石衬底装入反应室,在H<sub>2</sub>气氛下,1000℃以上处理10~20分钟; 2)在510℃~550℃下生长一厚度为7~30nm的GaN缓冲层; 3)在1030℃~1100℃的温度下生长一厚度为0.5~4μm的GaN层; 4)在此GaN层上,在900℃~1100℃之间外延生长InGaN薄膜,生长InGaN的 同时进行Si和Zn共掺杂;Zn的掺杂剂量在1.0~50μmol之间,Si的掺杂 剂量在0.18~1.8nmol之间。 | ||
地址 | 100871北京市海淀区北京大学 |