发明名称 EUV光罩基底用基板表面之平滑方法及使用该方法所得之EUV光罩基底
摘要 本发明提供EUV光罩基底用基板表面之平滑方法,该表面具有诸如坑或刮痕之凹缺陷。本发明系关于用于EUV微影之反射式光罩基底用基板表面之平滑方法,其包含将含有聚矽氮烷化合物之溶液涂敷于具有凹缺陷之基板表面,且加热及硬化所涂敷之溶液以形成氧化矽涂层(包含SiO#sB!2#eB!作为主骨干之涂层),藉此平滑具有凹缺陷之基板表面。
申请公布号 TW200830034 申请公布日期 2008.07.16
申请号 TW096138350 申请日期 2007.10.12
申请人 旭硝子股份有限公司 发明人 横山美华;生田顺亮;松本胜博
分类号 G03F1/08(2006.01) 主分类号 G03F1/08(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本
您可能感兴趣的专利