发明名称 |
高温高压下样品的介电常数和介电损耗测量装置及方法 |
摘要 |
本发明公开了一种高温高压下样品的介电常数和介电损耗测量装置,包括压力胞、六面对顶压机、测温装置、介电性能测试装置以及数据处理系统,所述样品封装在压力胞中,通过六面对顶压机对压力胞进行加热加压,实现样品的温度的实时变化,通过测温装置和介电性能测试装置将温度和样品的电容和介电损耗等数据信息传送给数据处理系统,得到样品的介电常数和介电损耗。本发明在改变温度的同时改变测量介电常数的频率,实现变化频率和变化温度扫描曲线测量,通过改变外部施加的准静水压力,可研究静水压力对铁电样品的介电性质的影响。 |
申请公布号 |
CN101329376A |
申请公布日期 |
2008.12.24 |
申请号 |
CN200810117330.3 |
申请日期 |
2008.07.29 |
申请人 |
中国科学院物理研究所 |
发明人 |
朱金龙;李凤英;靳常青 |
分类号 |
G01R27/26(2006.01);G01N27/82(2006.01) |
主分类号 |
G01R27/26(2006.01) |
代理机构 |
北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
尹振启 |
主权项 |
1.一种高温高压下样品的介电常数和介电损耗测量装置,其特征在于,包括压力胞、六面对顶压机、测温装置、介电性能测试装置以及数据处理系统,所述压力胞是将变温系统封装在传压介质叶腊石中构成。所述变温系统中设置六方氮化硼,并且变温系统与六面对顶压机的压头相连形成电流闭合回路,通过所述六面对顶压机对所述压力胞进行加热加压,所述六方氮化硼内封装有样品和温度采集装置,其中温度采集装置和样品之间不互相接触,从所述样品和温度采集装置引出的导引线分别与介电性能测试装置和测温装置相连,所述介电性能测试装置用来测量样品的电容和介电损耗,测温装置用来测量样品的温度,并分别将所得数据信息传送给数据处理系统,经过数据处理系统处理从所述测温装置和介电性能测试装置传输过来的数据,得到不同频率和不同温度下的介电常数和介电损耗。 |
地址 |
100190北京市海淀区中关村南三街8号 |