| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft eine Prüfnadel für einen Rasteranpassungsadapter einer Vorrichtung zum Testen von Leiterplatten. Die erfindungsgemäße Prüfnadel zeichnet sich dadurch aus, daß die Nadel einen sich zu einer freien Kontaktspitze der Nadel konisch verjüngend ausgebildeten Kontaktbereich zum Kontaktieren eines Leiterplattentestpunktes aufweist. Der Kontaktbereich besitzt eine Länge von zumindest 15 mm und die Prüfnadel besitzt an der Kontaktspitze einen Durchmesser von kleiner oder gleich 0,2 mm. Ein der Kontaktspitze gegenüberliegender Endabschnitt des Kontaktbereichs ist zumindest um 0,1 mm größer als der Durchmesser an der Kontaktspitze. Mit der erfindungsgemäßen Nadel können engste Strukturen auf Leiterplatten abgetastet werden. Die erfindungsgemäße Nadel ist steifer als bekannte Nadeln zum Abtasten vergleichbarer Strukturen. Hierdurch vereinfacht sich deren Handhabung und der Aufbau eines Rasteranpassungsadapters, in dem die Prüfnadeln eingesetzt werden.</p> |
