METHOD FOR DETECTING THE POSITION OR THE SURFACE STRUCTURE OF AN OBJECT AND APPLICATION OF SAID METHOD AS WELL AS A MACHINE FOR TREATING OBJECTS

摘要

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Erkennen der Lage oder der Oberflächenstruktur eines Gegenstands (3) mit Hilfe eines Arrays (1) kapazitiver Einzelsensoren (2), wobei der Gegenstand (3) auf oder dicht über dem Array (1) positioniert wird. Ferner betrifft die Erfindung insbesondere die Anwendung des Verfahrens in Bestückautomaten zur Erkennung von Lage und Orientierung der Anschlusspins (4) eines elektrischen Bauelementes (3). Der bei dem Verfahren verwendete Sensor wird mit Mitteln der Halbleiterproduktion hergestellt und kommt ohne weitere Zusätze, wie z.B. Optik, aus und ist wesentlich günstiger herzustellen. Darüber hinaus betrifft die Erfindung eine Maschine zur Verarbeitung von Gegenständen.