发明名称 供半导体记忆装置二位元预取之行位址解码器及其解码方法
摘要 一种供半导体记忆装置二位元预取之行位址解码器及供其解码之方法。该行位址解码器包含一记忆细胞矩阵,其具有许多储存资料用之记忆细胞及取代不良记忆细胞用之重复记忆细胞,许多连接记忆细胞之位元线,许多输出入线,许多连接在位元线及输出入线间之开关装置。它也包含一偶前置解码器用以接收从外面输入之位址之较小显着位元及在该较小显着位元之最小显着位元为’O’时先行解码该较小显着位元,一反解码器用以重现偶前置解码器先行解码之外部位址中之较小显着位元,及一重复启动讯号产生部分用以产生一重复启动讯号来接收反解码器之输出及触发其中一个重复记忆细胞。根据本发明,可增加该半导体记忆装置之资料处理速度。
申请公布号 TW422982 申请公布日期 2001.02.21
申请号 TW088105530 申请日期 1999.04.07
申请人 三星电子股份有限公司 发明人 李祯培;李始烈
分类号 G11C11/408;G11C11/413;G11C11/401;G11C29/00 主分类号 G11C11/408
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种半导体记忆装置,包含: 一记忆细胞矩阵包含许多用以储存资料之记忆细 胞; 许多位元线对连接至该记忆细胞; 许多输出入线对; 许多开关装置连接在位元线对及输出入线对之间; 以及 一位址解码器用以解码外面输入所收到之位址,同 时触发许多开关装置中至少二开关装置,及电子式 地连接相关位元线及输出入线。2.如申请专利范 围第1项之半导体记忆装置,其中许多开关装置是 行选取线。3.如申请专利范围第1项之半导体记忆 装置,其中该位址解码器同时触发该位址指定之开 关装置,及该位址之下一个位址指定之开关装置。 4.如申请专利范围第1项之半导体记忆装置,其中该 位址解码器是一行位址解码器用以选择性地指定 该位元线对。5.如申请专利范围第1项之半导体记 忆装置,其中该位址解码器包含: 一前置解码器用以预先解码该位址;及 一主解码器用以解码前置解码器输出之该预先解 码之位址及从许多开关装置中选取该开关装置。6 .如申请专利范围第5项之半导体记忆装置,其中该 前置解码器包含: 一偶前置解码器用以接收该位址之较小显着位元 及在该最小显着位元是'0'时预先解码该较小显着 位元; 一奇前置解码器用以接收该位址之较小显着位元 及在该最小显着位元是'1'时预先解码该较小显着 位元;以及 一主前置解码器用以预先解码该位址之较大显着 位元。7.如申请专利范围第6项之半导体记忆装置, 其中该偶前置解码器进一步接收输入之组合长度 讯号,结合该组合长度与该位址之较小显着位元, 及预先解码该位址。8.如申请专利范围第5项之半 导体记忆装置,其中该主解码器包含: 第一解码器用以解码该偶前置解码器预先解码之 位址及该主前置解码器预先解码之位址与触发某 个行选取线;以及 第二解码器用以解码该奇前置解码器预先解码之 位址及该主前置解码器预先解码之位址与触发未 被第一解码器触发之行选取线中之一个。9.如申 请专利范围第8项之半导体记忆装置,其中该第一 解码器触发某个偶行选取线及第二解码器触发某 个奇行选取线。10.如申请专利范围第1项之半导体 记忆装置,其中该半导体记忆装置是一与一时脉讯 号同步操作之同步DRAM半导体装置。11.一种半导体 记忆装置,包含: 一记忆细胞距阵包含许多用以储存资料之记忆细 胞及重复记忆细胞用以取代记忆细胞间之不良记 忆细胞; 许多位元线对连接至该记忆细胞; 许多输出入线对; 许多开关装置连接在位元线对及输出入线对之间; 一偶前置解码器用以接收外面输入位址之较小显 着位元及当最小显着位元是'0'时预先解码该较小 显着位元; 一反解码器用以重现有关该偶前置解码器预先解 码位址之外面位址之较小显着位元;以及 一重复启动讯号产生部份用以产生一重复启动讯 号来接收该反解码器之输出及触发某个重复记忆 细胞。12.如申请专利范围第11项之半导体记忆装 置,其中该反解码器包含: 许多开关装置用以重现对应该偶前置解码器预先 解码位址之外面位址之较小显着位元;以及 许多锁相器用以锁住该外面位址之较小显着位元 。13.如申请专利范围第12项之半导体记忆装置,其 中许多开关装置是传输闸。14.一种用以解码半导 体记忆装置之行位址之方法,该半导体记忆装置包 含许多位元线对,许多输出入线对,行选取线闸用 以连接许多位元线对至许多输出入线对,及一行位 址解码器用以预先解码外面输入所收到之行位址, 包含步骤有: 从外面施加该行位址至行位址解码器;以及 同时触发该行位址指定之行选取线闸及该行位址 之下一个位址指定之行选取线闸。图式简单说明: 第一图根据本发明之一具体实施例以图式方式展 示一半导体记忆装置; 第二图根据本发明之第二具体实施例以图式方式 展示一半导体记忆装置; 第三图系展示于第一图之奇前置解码器之细部电 路图; 第四图系展示于第一图之偶前置解码器之细部电 路图; 第五图系展示于第一图之反解码器之细部电路图 。 第六图系展示于第一图之偶行选取线重复启动讯 号产生部份之细部电路图。 第七图系展示于第一图之奇行选取线重复启动讯 号产生部份之细部电路图;以及 第八图系根据本发明之较佳具体实施例以一流程 图说明一种半导体记忆装置之行位址解码方法。
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