用于检测数字半导体电路装置的测试电路及方法

摘要

本发明涉及一种单片集成测试电路,用于检测在同一半导体芯片上构成的数字半导体电路装置,其中有多个待测试元件,一个检测数据样本寄存器(1),用于缓冲存储检测数据样本,一个读出电路和写入电路,用于向和从待测元件进行检测数据样本的写入和读出,还有一个比较电路(6),用于检测在待测试元件中写入和读出的数据的差值。测试电路备有一个可以利用一个激活信号(3)激活的样本改变电路(2),该电路在写入待测试元件之前改变来自检测数据样本寄存器中的检测数据样本。

主权项

1．单片集成测试电路，用于检测在同一半导体芯片上构成的数字半导体电路装置，其中有多个待测试的元件，一个检测数据样本寄存器(1)，用于缓冲存储检测数据样本，一个读出和写入电路，用于向和从待测试元件写入和读出检测数据样本寄存器中的数据，还有一个比较电路(6)，用于检测在待测试元件中写入的和从中读出的数据差值，其特征在于，测试电路包括一个可以利用一个激活信号(3)激活的样本改变电路(2)，用来在写入待测试元件之前改变来自检测数据样本寄存器中的检测数据样本。