发明名称 SUPPORT CONTAINER AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING/INSPECTING DEVICE
摘要 <p>L'invention concerne un dispositif semiconducteur de fabrication/inspection capable d'effectuer un refroidissement total de manière uniforme et rapide. Ce dispositif semiconducteur de fabrication/inspection, dans lequel une base en céramique pourvue d'un générateur de chaleur à résistance est logée dans une ouverture d'un récipient de support inférieur, se caractérise en ce que le récipient de support est pourvu d'un conduit d'alimentation en fluide de refroidissement destiné à mettre l'intérieur de ce récipient de support en communication avec l'extérieur dudit récipient.</p>
申请公布号 WO2001011664(P1) 申请公布日期 2001.02.15
申请号 JP2000005045 申请日期 2000.07.28
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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