发明名称 半导体装置及其组装方法
摘要 使用作为中间基质之一聚醯亚胺带,以提供一外部接头并尽可能防止施加于半导体晶片上之机械震动,以降低材料之成本及减少CSP(晶片尺寸封装)技术之制造步骤数目’而降低制造成本。经由于层间夹置有导电层之聚醯亚胺带,外部接头可电联于一半导体晶片上。该外部接头系电联于位在其一表面上之导电层。该半导体晶片之垫片及该导电层系藉由焊剂连接于其另一表面上。于该嵌装之半导体晶片与聚醯亚胺带间之间隔中的整体区域中包括该连接部分之周边充填一树脂。
申请公布号 TW421867 申请公布日期 2001.02.11
申请号 TW088118792 申请日期 1999.10.29
申请人 新力股份有限公司 发明人 尾崎裕司
分类号 H01L23/488;H01L23/522 主分类号 H01L23/488
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种半导体装置,其包括一半导体晶片及一外部 接头,该外部接头系经由一聚醯亚胺带电联于该半 导体晶片,该聚醯亚胺带具有一导电层及两层夹置 该导电层之聚醯亚胺层, 该用以电联于该聚醯亚胺带之该导电层之外部接 头系位于该聚醯亚胺带之一表面上,以及 于该聚醯亚胺带之另一表面上该半导体晶片之一 垫片及该聚醯亚胺带之导电层系藉由焊剂连接。2 .如申请专利范围第1项之半导体装置,其中于该嵌 装之半导体晶片与该聚醯亚胺带间之间隙中的整 个区域(包括该半导体晶片与该聚醯亚胺带之连接 位置之周围)充填一树脂。3.一种组装半导体装置 之方法,其中,一外部接头经由一聚醯亚胺带电联 于一半导体晶片,该聚醯亚胺带具有一导电层及两 层夹置该导电层之聚醯亚胺层,该方法包括步骤: 于该半导体晶片之一垫片上或位于该垫片上之一 电极层上施加焊剂; 放置成使曝露于该聚醯亚胺带之一表面的该导电 层之一预定位置位于该焊剂之顶面;及 藉热压黏合法连接该聚醯亚胺带及该半导体晶片 。4.如申请专利范围第3项之组装半导体装置之方 法,其中另外包括步骤: 于该嵌装之半导体晶片与该聚醯亚胺带之间隔内 之整体区域(包括该半导体晶片与该聚醯亚胺带之 连接位置周围)充填一树脂,及 于曝露于该聚醯亚胺带另一表面上之该导电层之 一预定位置上形成外部接头。5.一种组装半导体 装置之方法,其中一外部接头系经由一聚醯亚胺带 电联于一半导体晶片上,该聚醯亚胺带系具有一导 电层及将该导电层夹置于其间之两聚醯亚胺层,该 方法包括步骤: 提供焊剂于分成数个晶片之前之处于半导体晶圆 状态之垫片上或于该垫片上所提供之电极层上; 放置成使曝露于该聚醯亚胺带之一表面上之该导 电层之预定位置位于该焊剂顶层; 藉热压黏合法连接该聚醯亚胺带及该半导体晶片; 以及 将该半导体晶圆分成晶片。6.如申请专利范围第5 项之组装半导体装置之方法,其中,于该聚醯亚胺 带及该半导体晶圆之连接步骤中,使用多片聚醯亚 胺带以将该半导体晶圆分成晶片区域。7.如申请 专利范围第5项之组装半导体装置之方法,其中, 于该聚醯亚胺带及该半导体晶圆之连接步骤中,使 用单一片聚醯亚胺带连接于所使用之半导体晶圆 之整体区域上且, 于将该半导体晶圆分割成晶片之步骤中,该聚醯亚 胺带系与该半导体晶圆一起分割。8.如申请专利 范围第5项之组装半导体装置之方法,其中,于该聚 醯亚胺带及该半导体晶圆之连接步骤中,当持住该 聚醯亚胺带与该半导体晶圆其中之一并使其与另 一者彼此压合时,使用具有弹性可吸收因压至特定 程度所致之推斥力的工具。9.如申请专利范围第5 项之组装半导体装置之方法,其中,于该聚醯亚胺 带及该半导体晶圆之连接步骤中,当持住该聚醯亚 胺带与该半导体晶圆其中之一并于一支架上使其 与另一者彼此压合时,使用具有弹性可吸收因压至 特定程度所致之推斥力的支架。10.如申请专利范 围第5项之组装半导体装置之方法,其另外包括步 骤: 于该嵌装之半导体晶片与该聚醯亚胺带间隔内之 整体区域(包括该半导体晶片与该聚醯亚胺带之连 接位置周围)充填一树脂;及 于曝露于该聚醯亚胺带另一表面上之该导电层之 预定位置上形成外部接头。11.如申请专利范围第 10项之组装半导体装置之方法,其中, 于该树脂充填步骤中,使用多个树脂注射口一起注 射所有树脂于该半导体晶圆整体表面上,或于位于 预定区域中之多个晶片区域,以及 于将该半导体晶圆分成晶片之步骤中,介于晶片区 域间之树脂部分系与该半导体晶圆一起切割。12. 一种半导体装置,包括: 一半导体晶片; 一导电性部分,其具有位于该半导体晶片表面上之 垫片、位于该垫片上之隆突金属层及位于该隆突 金属层上之焊剂层; 一中间导电构件,面向该半导体晶片表面,且具有 一导电层及位于该导电层两表面上之第一及第二 绝缘层; 一绝缘树脂,注入于介于该半导体晶片与该中间导 电性元件间之间隙中;及 一外部接头, 该中间导电构件之导电层的一表面系经由位于该 中间导电构件之第一绝缘层中之一开口连接于该 导电性部分之该焊剂层,而该中间导电构件之导电 层另一表面系经由位于该中间导电构件之第二绝 缘层中之另一开口连接于该外部接头。13.如申请 专利范围第12项之半导体装置,其中该导电性部分 系包括介于该半导体晶片表面与该垫片之间的障 壁金属层。14.如申请专利范围第12项之半导体装 置,其中该第一及第二绝缘层系由聚醯亚胺形成。 15.如申请专利范围第12项之半导体装置,其中该外 部接头系由焊剂材料形成。16.如申请专利范围第 12项之半导体装置,其中多个导电性部分系于该半 导体晶片之元件形成区域中排列成栅形阵列。图 式简单说明: 第一图系为相关技艺半导体装置之结构的剖面图; 第二图为相关技艺半导体装置组件中一光束前导 与一半导体晶片之连接部分的放大图; 第三图为相关技艺之垫片排列图型的放大图型,其 中该垫片系以阵列形式排列于该晶片表面之整体 区域及其组合体中一光束前导与该半导体晶片之 连接部分之整体后域上; 第四图系为第一具体实例之一半导体装置之结构 剖面图; 第五图系为该第一具体实例之半导体装置的组装 步骤剖面图,其显示直至于一半导体晶圆上形成焊 剂隆突物之状态; 第六图系为将该半导体晶圆分成晶片之后的状态 剖面图,由第五图连续; 第七图系为聚醯亚胺带与该焊剂隆突物之连接步 骤的剖面图,由第六图连续; 第八图A及第八图B系为第二具体实例之一半导体 装置的制造方法,显示将树脂注射于一半导体晶圆 中之步骤,其中一聚醯亚胺带系连接于个别晶片区 域上; 第九图系为形成该焊剂球之后的状态剖面图,由第 八图A及第八图B连续;且 第十图系为第三具体实例之组装方法中,该聚醯亚 胺带之黏着步骤的剖面图。
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