发明名称 A METHOD OF FORMING AN ULTRA-THIN SOI ELECTROSTATIC DISCHARGE PROTECTION DEVICE
摘要 <p>초박형 SOI 기판상에 ESD 보호 소자를 형성하는 방법은 : 절연 영역을 단결정 실리콘기판상에 형성하는 공정 및 선택적으로 도전하는 영역을 상기 단결정 실리콘기판상에 형성하는 공정을 포함하는, 단결정 실리콘기판을 마련하는 공정; 도판트로써 상기 선택적으로 도전하는 층을 도핑하는 공정; 선택된 절연 영역 및 상기 도프된, 선택적으로 도전하는 영역 위에 실리콘층을 에피택시얼 성장시키는 공정; 상기 에피택시얼 성장된 실리콘층내로 도판트를 재분산시키도록 상기 기판과 그 기판상에 형성된 구조체를 약 850℃ 내지 1150℃의 온도로 약 30분 내지 3시간 동안 가열하는 공정; 상기 구조체에 추가적인 층의 제조를 완료하는 공정; 및 상기 구조체를 메탈라이징하는 공정을 포함한다.</p>
申请公布号 KR100281397(B1) 申请公布日期 2001.02.01
申请号 KR19990011184 申请日期 1999.03.31
申请人 null, null;null, null 发明人 슈솅텡
分类号 H01L27/04;H01L21/822;H01L21/84;H01L27/12;H01L29/786 主分类号 H01L27/04
代理机构 代理人
主权项
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