发明名称 X射线层析摄影系统的射线检测和准直一体化组件
摘要 X射线层析摄影系统(8)的一种一体化射线检测和准直组件(14),该组件包括一壳体(34),该壳体装在该系统的一背脊上,光二极管(44)、闪烁晶体(24)和抗散射板(22)的对应阵列互相校准,使得X射线从焦点直接照射到检测器上。因此光二极管(44)、闪烁晶体(24)和抗散射板(22)的陈列都相对固定在壳体(34)中,而壳体本身紧固在该扫描系统的支架(28)上。
申请公布号 CN1282228A 申请公布日期 2001.01.31
申请号 CN98812291.X 申请日期 1998.12.09
申请人 模拟技术有限公司 发明人 索林·马尔科维奇;西蒙·乔治·哈奥蒂亚恩;本·图瓦尔
分类号 A61B6/00;G01T1/20 主分类号 A61B6/00
代理机构 永新专利商标代理有限公司 代理人 程坤
主权项 1、X射线层析摄影系统的一种一体化射线检测和准直组件,该层析摄影系统包括一辐射源;支撑一被扫描物体的装置;检测穿过所述物体的射线、生成表示该物体诸部分的相对密度的电信号的装置以及一把所述线源和所述检测装置支撑成可相对所述物体转动的支架,其特征在于,所述组件包括:a.在一基片上布置成一线性阵列的多个光二极管;b.布置成可接收从所述辐射源发出的X射线的多个闪烁晶体,各晶体之间相距一非检测区,每一所述晶体布置在一阵列中并与一对应光二极管校准和光耦合;c.在一对应阵列中布置在所述晶体上方的多个抗散射板,每一所述抗散射板与相邻两晶体之间的一对应非检测区校准;以及d.所述组件的一壳体,所述壳体包括:一中心支撑部,该中心支撑部支撑所述基片,使得所述闪烁晶体受从所述辐射源发出的X射线的照射;从所述中心支撑部伸出、界定光二极管、晶体和抗散射板的所述各阵列的一内部区的一对壁以及从所述光二极管经所述壳体到远处一数据收集系统的电连接通道装置,其中,所述光二极管、所述闪烁晶体和所述抗散射板都相对固定在所述壳体中;所述壳体可装在所述支架上预定校准位置上。
地址 美国马萨诸塞州