发明名称 Two dimensional metrology device and method for cryogenic temperatures
摘要 Aparato y método de metrología bidimensional para temperaturas criogénicas. Constituido por una cubeta (1) de fondo (2) plano y transparente, ligeramente sobreelevado respecto a un escaner (4) gracias a un borde perimetral (3) que presenta la citada cubeta (1) de tal manera que, primeramente se deposita el objeto a medir (5) en la cubeta y se obtiene una primera imagen digitalizada del objeto (5) para a continuación verter nitrógeno líquido en la cubeta (1) y obtener una segunda imagen digitalizada del objeto (5), determinándose la contracción que éste ha sufrido mediante medidas directas sobre ambas imágenes digitalizadas.
申请公布号 ES2152180(A1) 申请公布日期 2001.01.16
申请号 ES19990000693 申请日期 1999.04.07
申请人 CENTRO DE INVESTIGACIONES ENERGETICAS, MEIDOAMBIENTALES Y TECNOLOGICAS, (C.I.E.M.A.T) 发明人 GRAU CARLES AGUSTIN;ABRAMIAN BARCO PABLO
分类号 G01B9/08;G01B11/02;(IPC1-7):G01B11/02 主分类号 G01B9/08
代理机构 代理人
主权项
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