| 摘要 |
집적 반도체 메모리는 병렬 테스트 장치(PT)와 U개의 블럭그룹(GPu)을 포함한다. 병렬테스트장치(PT)는 반도체 메모리에 기록하고 반도체 메모리에서 판독되는 데이타를 기록 및 평가하기 위해 이용된다. 상기 배열에서, M개의 메모리셀(MC)의 다소그룹은 테스트 모드에서 동작을 위해 동시에 테스트될 수 있는 바 각 그룹은 각 워드라인(WL)에 걸쳐 배열된다. 이러한 과정동안 데이터 판독은 병렬테스트장치(PT)에 의해 평가될 수 있다. 평가의 결과는 반도체 메모리의 입력/출력 데이터 라인(I01, I02, I03)에서 M개의 메모리셀(MC)의 각 그룹에 대해 분리하에 나타난다. 반도체 메모리는 중복 메모리셀(MCred)을 또한 가질수 있다. 이러한 경우에 메모리셀(MC) 또는 메모리셀(MC) 그룹은 테스트 모드(중복)에 접속되어 교환될 수 있다. |
