发明名称 METHOD AND DEVICE FOR PROCESS-OPTIMIZING REGULATION OF PARAMETERS IN A PRODUCTION PROCESS
摘要 <p>Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur prozeßoptimierenden Einstellung von Parametern eines Produktionsprozesses für ein langgestrecktes flächiges Produkt (2) zur Erzielung einer vorgebbaren Qualität. Die Oberfläche des Produktes (2) wird mittels eines Oberflächen-Inspektions-Systems (6) in einer geeigneten Stufe des Produktionsprozesses beobachtet, wobei aus den Beobachtungsdaten (8) die gesamte Oberfläche als eine Art Oberflächenkarte mit festgestellten Oberflächenmerkmalen in Form von Oberflächendaten aufgezeichnet und die Oberflächenmerkmale nach verschiedenen Arten und/oder nach Größe und/oder nach Häufigkeit klassifiziert und entsprechend ihrer Position in die Oberflächenkarte eingetragen werden. Die Produktionsdaten und die Produktdaten werden gemeinsam einer Datenverarbeitungseinheit (11) zugeführt und dort auf zwischen ihnen bestehende Korrelationen untersucht, wobei Regeln festgestellt werden, wie die Produktdaten von bestimmten Produktionsdaten abhängen, so daß die Prozeßparameter entsprechend den festgestellten Regeln zur Erzielung einer gewünschten Qualität eingestellt werden können. Die Erfindung ermöglicht z. B. bei Gießwalzanlagen für Stahlblech die Erkennung von Zusammenhängen zwischen Prozeßparametern und dem Auftreten von Oberflächenfehlern.</p>
申请公布号 WO2001002840(A1) 申请公布日期 2001.01.11
申请号 EP2000005085 申请日期 2000.06.02
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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