发明名称 Beleuchtungseinrichtung für ein DUV-Mikroskop
摘要 Eine Beleuchtungseinrichtung für ein DUV-Mikroskop (1) weist einen von einer DUV-Lichtquelle (5) ausgehenden Beleuchtungsstrahlengang (6) auf, in dem ein Kollektor (7) und ein Reflexionsfilter-System (9) angeordnet sind, welches ein DUV-Wellenlängenband erzeugt und aus vier Reflexionsfiltern (8) besteht. An diesen wird der Beleuchtungsstrahlengang (6) jeweils im gleichen Reflexionswinkel = reflektiert, wobei vor und hinter dem Reflexionsfilter-System (9) der Beleuchtungsstrahlengang (6) koaxial verläuft. Erfindungsgemäß beträgt der Reflexionswinkel = 6 30 und das DUV-Wellenlängenband besitzt eine Halbwertsbreite von max. 20 nm sowie einen Peak mit einem Spitzenwert S von über 90% der eingestrahlten Lichtintensität. Die erzielte sehr geringe Halbwertsbreite des DUV-Wellenlängenbandes ermöglicht, die DUV-Objektive des DUV-Mikroskops (1) sehr gut zu korrigieren.
申请公布号 DE19931954(A1) 申请公布日期 2001.01.11
申请号 DE19991031954 申请日期 1999.07.10
申请人 LEICA MICROSYSTEMS WETZLAR GMBH 发明人 DANNER, LAMBERT;EISENKRAEMER, FRANK;VEITH, MICHAEL;VOLLRATH, WOLFGANG;OSTERFELD, MARTIN
分类号 G02B5/26;G02B5/28;G02B21/06;G02B21/16;(IPC1-7):G02B21/16 主分类号 G02B5/26
代理机构 代理人
主权项
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