发明名称 平面研磨装置
摘要 一种平面研磨装置,在对叠置有数种材料的硅片10进行研磨时,通过设置于压磨板11上的单个透光窗WT,在平时借助光检测器29检测硅片10的研磨面产生的反射光量,此外,在多个透光窗Wn从硅片10的下面通过的过程中,分别通过多个光学传感器Sn检测上述反射光量。根据这些反射光量,对在研磨头部14的内部,针对每个环状区域设置的多个加压室的压力进行控制,针对每个环状区域,在适当地设定压力的同时,对硅片10进行研磨。
申请公布号 CN1279506A 申请公布日期 2001.01.10
申请号 CN00109568.4 申请日期 2000.07.05
申请人 日本电气株式会社 发明人 佐藤右一;吉野喜一;古山尚宏;永元信裕;三桥真成
分类号 H01L21/304;B24B7/22 主分类号 H01L21/304
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 汪惠民
主权项 1.一种平面研磨装置,其包括顶面贴附有研磨垫(13)的压磨板(11),以及位于上方的研磨头部(14),在上述压磨板(11)与上述研磨垫(13)之间夹持研磨对象物件(10),在施加规定的压力的同时,上述压磨板(11)与研磨头部(14)旋转,在上述研磨垫(13)与研磨对象物件(10)之间设置浆液,对研磨对象物件(10)进行研磨,该研磨头部(14)可对保持研磨对象物件(10)的面喷射加压流体,在上述研磨头部(14)的内部划分形成的多个同心的环状区域(CB0,CB1,CB2)中,开设有多个孔(18,19,20),可针对上述的每个区域(CB0,CB1,CB2),供给上述加压流体,上述压磨板(11)包括穿过研磨垫(13)的单个透光窗(WT),透光型材料(CD,CU)嵌入该透光窗(WT),在上述压磨板(11)的底面,在该透光窗(WT)的周边与压磨板(11)的旋转中心处,安装有反射镜(26,27),在安装于压磨板(11)的旋转中心的底面的反射镜(27)的下方,设置有光源(28)与光检测器(29),其特征在于:其包括下述控制部(40),该控制部通过上述光检测器(29)接受下述光,该光指从上述光源(28)发出的光,借助上述2个反射镜(26,27),通过上述单个透光窗(WT),投射到研磨对象物件(10)上,形成由研磨对象物件产生的反射光,然后按照与上述相同的路径返回的光,对应于该受光量,可针对上述的每个区域(CB0,CB1,CB2),分别改变上述加压流体的压力。
地址 日本东京都