发明名称 Intermittent rotary type chip inspector
摘要 <p>본 고안은 서로 직교하는 간헐회전기구를 이용해 직육면체형 칩의 모든 표면을 검사하는 간헐회전형 칩검사기에 관한 것으로서, 직육면체형 칩(10) 표면의 결함을 검사하는 칩 검사기에 있어서: 외주면 전체에 걸쳐 상기 칩(10)의 폭(w)과 동일한 폭 및 칩(10)의 높이(h)보다 낮은 깊이를 가져 상기 칩(10)을 폭 방향으로 삽입할 수 있는 사각형상의 다수의 제 1 홈(22)이 일정 간격으로 형성되어 있는 제 1 디스크(20); 외주면 전체에 걸쳐 상기 칩(10)의 길이(ℓ)와 동일한 폭 및 칩(10)의 높이(h)보다 낮은 깊이를 가져 상기 칩(10)을 길이방향으로 삽입할 수 있는 사각형상의 다수의 제 2 홈(32)이 상기 사각홈(22)과 동일한 간격으로 형성되어 있는 제 2 디스크(30);를 포함하고, 상기 제 1 디스크(20)와 제 2 디스크(30)는 직각으로 교차 배치되어 서로 등속도로 간헐회전하여 그 교차지점(40)에서 상기 제 1 홈(22)에 삽입되어 있던 칩(10)이 상기 제 2 홈(32)으로 이동되는 것을 특징으로 한다.</p>
申请公布号 KR20010000023(U) 申请公布日期 2001.01.05
申请号 KR19990009544U 申请日期 1999.06.01
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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