Das erfindungsgemässe Multi-Mode Speicherelement ist einsetzbar beim Entwurf sequentieller Schaltungen mit Scan-Mode, und es dient der Verbesserung der Testbarkeit derartiger Schaltungen. In Abhängigkeit von Steuersignalen werden in verschiedenen Modes verschiedene Selbsttests unterstützt. Es erlaubt einen pseudo-zufälligen tatsächlichen Delay-Test.
