TEST DEVICE FOR TESTING A MEMORY

摘要

Die Erfindung betrifft eine Testeinrichtung (4) zum Prüfen eines auf bzw. in einem Substrat (1) ausgebildeten Speichers mit einer Vielzahl von Speicherzellen (2), wobei die Testeinrichtung nach einem Prüfprogramm eine Prüfung des Speichers vornimmt, wobei die Testeinrichtung (4) eine Interpretervorrichtung aufweist, die den Speicher nach dem Prüfprogramm betreibt und testet, wobei das Prüfprogramm im zu testenden Speicher abgelegt ist. Die Erfindung bezieht sich ferner auf ein Verfahren zum Testen eines Speichers sowie auf eine Schaltungsanordnung mit einer Vielzahl von auf einem gemeinsamen Substrat ausgebildeter Schaltungen (1a), insbesondere Speichern, welche zur Ermöglichung der Vereinzelung der Schaltungen einen Zwischenraum (55) zwischen diesen aufweisen, wobei in den Zwischenräumen (55) Zuleitungen (51) ausgebildet sind, die die einzelnen Schaltungen (1a) miteinander und/oder mit einer oder mehreren Zusatz-Schaltungen verbinden.