发明名称 Determination of parasitic capacitance between the gate and drain/source local interconnect of a field effect transistor
摘要
申请公布号 US6169302(A) 申请公布日期 2001.01.02
申请号 US09/361698 申请日期 1999.07.27
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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