发明名称 三维量测仪
摘要 本创作为一种三维量测仪,应用于物体表面的量测,可于获取物体的表面资料后,透过影像处理及空间运算的技术,重建物体表面的三维影像。本创作所揭露的技术特征系利用具有液晶面板的光源投射装置来取代一般以雷射光作为量测时光源的投射机构,藉由控制液晶面板的输出变化,调制投射机构之射出光束的形式,以便能由影像撷取装置捕获反射自物体表面之相应于物体表面资料的影像。
申请公布号 TW416524 申请公布日期 2000.12.21
申请号 TW088204397 申请日期 1999.03.23
申请人 全友电脑股份有限公司 发明人 沈昌翰
分类号 G01B11/24;G01B11/30;G03B21/20 主分类号 G01B11/24
代理机构 代理人
主权项 1.一种三维量测仪,系包括一光源产生装置、一影 像撷 取装置、以及一控制装置,前述光源产生装置产生 光 源用以照射在待量测物体,而前述影像撷取装置则 用 来撷取自前述待测量物体返回的影像,其特征为前 述 光源产生装置包括: 一发光元件,系用以产生光源; 一偏极光转换器,用以将该光源转换为单一偏极性 的 光线输出; 一液晶面板,系接收前述偏极光转换器输出之光线 , 并经由前述控制装置控制而产生另一所需的投射 光 束;以及 一投射镜头,系用来将前述液晶面板所传来的前述 投 射光束投影在前述物体上。2.如申请专利范围第1 项所述之三维量测仪,其中该发 光元件为一灯泡。3.如申请专利范围第1项所述之 三维量测仪,其中该光 源产生装置更包含一反射器,用以使该发光元件所 发 出之光源均射入该偏极光转换器。4.如申请专利 范围第1项所述之三维量测仪,其中该液 晶面板系由前述控制装置之控制,而将该偏极光转 换 器所输出之光线反射至该投射镜头。5.如申请专 利范围第4项所述之三维量测仪,其中还包 括有一分光棱镜,用以将该偏极光转换器所输出之 光 线反射至该液晶面板,并且可让该液晶面板反射之 光 线穿透而射至该投射镜头。6.如申请专利范围第1 项所述之三维量测仪,其中该液 晶面板系由前述控制装置之控制,而使该偏极光转 换 器所输出之光线透射至该投射镜头。7.如申请专 利范围第6项所述之三维量测仪,其中在该 液晶面板与该偏极光转换器之间还设有一滤光镜 。8.如申请专利范围第1项所述之三维量测仪,其中 该偏 极光转换器包括有整合为一体的: 一极化光学元件,用以将该发光元件发出的光源转 换 为线性偏极光,以及 一极性转换元件,用以将该极化光学元所转换完成 的 线性偏极光整合为具有单一极性的偏极光。9.如 申请专利范围第1项所述之三维量测仪,其中还包 括有一透镜阵列,用以均质化该发光元件发出的光 源。10.如申请专利范围第8项所述之三维量测仪, 其中该 偏极光转换器还包括有一体整合于该极性转换元 件的 聚光镜片,用以将前述具有单一极性的偏极光集中 输 出。
地址 新竹科学工业园区工业东三路六号