发明名称 PROCEDIMIENTO Y SISTEMA DE ANALISIS OPTICO DE MUESTRAS.
摘要 LA PRESENTE INVENCION DEFINE UN METODO Y UN SISTEMA PARA LOCALIZAR Y ANALIZAR AUTOMATICAMENTE UN ANALITO DEPOSITADO SOBRE LA SUPERFICIE DE UN SUBSTRATO DE EXAMEN QUE CONTIENE UN REACTIVO. SE NOTARA VISUALMENTE UN RESULTADO POSITIVO DEL TEST COMO UNA REGION MAS OSCURA DONDE EL ANALITO HA REACCIONADO CON EL REACTIVO. INICIALMENTE, LA PRESENTE INVENCION CALIBRA LA LUZ REQUERIDA PARA DETERMINAR LOS RESULTADOS DEL TEST (124). SE CAPTURA UNA IMAGEN DIGITAL A PARTIR DE LA IMAGEN ANALOGICA (118) Y SE PROCESA (102) MEDIANTE LA PRESENTE INVENCION. LA PRESENTE INVENCION AUTOMATICAMENTE LOCALIZA EL REGION DE INTERES Y COMPUTA UN AREA DE LA MAYOR DENSIDAD DE COLOR U OPTICA CORRESPONDIENTE A LA UBICACION DEL ANALITO. UNA SEGUNDA AREA, LEJOS DEL LUGAR DE REACCION, SE UTILIZA PARA PROPORCIONAR UNA LECTURA DE DENSIDAD DE FONDO. LA DENSIDAD DE FONDO SE UTILIZA ENTONCES PARA AJUSTAR LA MEDICION DE LA DENSIDAD DEL ANALITO SEGUN UNA FUNCION MATEMATICA PREDEFINIDA PARA PROPORCIONAR LOS RESULTADOS CUANTITATIVOS DEL TEST (122).
申请公布号 ES2150985(T3) 申请公布日期 2000.12.16
申请号 ES19940909763T 申请日期 1994.02.24
申请人 E-Y LABORATORIES, INC. 发明人 CHU, ALBERT, E.;TAO, LIAN
分类号 G01N21/82;G01N15/14;G01N21/27;G01N21/59;G01N21/86;G06T7/40 主分类号 G01N21/82
代理机构 代理人
主权项
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