TEST BOARD FOR IC TESTER,申请号KR19970040701-传众专利搜索

发明名称	TEST BOARD FOR IC TESTER
摘要
申请公布号	KR100276503(B1)	申请公布日期	2000.12.15
申请号	KR19970040701	申请日期	1997.08.25
申请人	ANDO ELECTRIC CO., LTD.	发明人	TERAO, MASASHI
分类号	G01R1/06;G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26	主分类号	G01R1/06
代理机构		代理人
主权项
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