| 摘要 |
<p>Zur Bestimmung der Dicke und Wachstumsgeschwindigkeit einer Eisschicht auf Bauteilen, insbesondere von Luftfahrzeugen, wird die auf eine mit einer Eis- und/oder Störschicht (1) bedeckte Oberfläche fallende Strahlung durch ein mit einem Zeilenempfänger (7) verbundenes holographisches Gitter (6) spektral zerlegt. Durch Vergleich der gemessenen Strahlung mit einer gespeicherten Reflektionskurve einer Oberfläche ohne Belag und durch Verknüpfung der Vergleichswerte sowie der Bestimmung der Peakfläche im Wellenlängenbereich der Eisabsorption wird eine Korrektur der Eisabsorption erhalten und die Dicke und die Wachstumsgeschwindigkeit der Eis- und/oder Störschicht (1) ermittelt und angezeigt. Die Vorrichtung besteht aus einem in der mit einer Eis- und/oder Störschicht (1) bedeckten Oberfläche vorgesehenen Fenster (3), durch das eine Strahlung über ein optisches Abbildungssystem (4) und einen Eintrittsspalt (5) auf ein holographisches Gitter (6) fällt, dort nach Wellenlängen zerlegt, auf einem Zeilenempfänger (7) abgebildet und mittels einer Steuer- und Auswerteeinheit (8) ausgewertet wird. Die Auswertedaten werden auf einer Anzeige (9) angezeigt.</p> |
