发明名称 基体清洁方法及设备
摘要 一种基片清洁方法包括下列步骤:将含有微细的氢粒子或微细的二氧化碳气体粒子的清洁用流体供应到装在真空容器内的喷嘴单位上,喷嘴单位中的喷嘴孔是配置成将清洁用流体同时由前方和后方吹向多数个分别配置有清洁标的基片的空间;将流体释放到真空容器外面而使真空容器维持在真空状态;将多数个清洁标的基片分别配置并固定于多数个空间内,并在垂直移动任何一个清洁标的基片及喷嘴单元使得清洁标的基片与喷嘴单位互相之间作垂直的相对运动之下清洁这些清洁标的基片以及从清洁标的基片的上方供应一种能自空间不断地释放出清洁体的释放流体。同时还揭示了一种用来执行这种方法的设备。
申请公布号 TW414967 申请公布日期 2000.12.11
申请号 TW087107646 申请日期 1998.05.18
申请人 电气股份有限公司 发明人 青木 秀充
分类号 B08B7/00;H01L21/304 主分类号 B08B7/00
代理机构 代理人 何金涂 台北巿大安区敦化南路二段七十七号八楼
主权项 1.一种基片清洁方法包括下列步骤: 将含有微细的氩粒子或微细的二氧化碳气体粒子 的清洁用流体供应到装在真空容器内的喷嘴 单位上,喷嘴单位中的喷嘴孔是配置成将清洁用流 体同时由前方和后方吹向多数个分别配置 有清洁标的基片的空间; 将流体释放到真空容器外面而使真空容器维持在 真空状态; 将多数个清洁标的基片分别配置并固定于多数个 空间内,并在垂直(方向)移动清洁标的基片 及喷嘴单位中之一个,使得清洁标的基片与喷嘴单 位互相之间作垂直的相对运动之下清洁这 些清洁标的基片;以及 从上清洁标的基片的上方供应一种能自空间不断 地释放出清洁流体的释放流体。2.如申请专利范 围第1项之方法,其中该清洁标的基片在清洁标的 基片步骤期间是会转动的 。3.一种基片清洁设备包括: 一个其中配置有喷嘴孔的喷嘴单位,以便将清洁用 流体同时由前方和后方吹向多数个分别配 置有清洁标的基片的空间; 一个清洁用流体供应单位,系用来将含有微细氩粒 子或微细二氧化碳气体粒子的流体供应到 喷嘴单位上; 支持装置,系用来固定分别配置于多数个空间内的 许多清洁标的基片; 一个驱动单位,系用来垂直移动清洁标的基片及喷 嘴单位之其中一个,使得清洁标的基片与 喷嘴单位互相之间作垂直的相对运动; 一个释放流体供应单位,系用来清洁标的基片的上 方供应一种会形成一个液体流而导致清洁 用流体不断地自空间释放出的释放流体;以及 一个其中装有喷嘴单位、驱动单位、支持装置、 和释放流体供应单位的真空容器,和排气装 置,系用来将流体释放到真空容器外面而使真空容 器内部恒常地维持在真空状态。4.如申请专利范 围第3项之设备,其中该喷嘴单位包括一个共通导 管以及许多依梳状方式自 共通导管分支出来的喷嘴导管,而且每一个喷嘴导 管都在预设节距上形成有许多喷嘴孔。5.如申请 专利范围第3项之设备,其中该支持装置包括一些 其周围部分中各有一个U-形或V- 形沟漕的滚筒状保留器,而且每一个清洁标的基片 是与至少配置在三个部分的保留器固定在 一起。6.如申请专利范围第3项之设备,其中该喷嘴 单位之喷嘴孔的直径是落在大约0.1mm到1mm的 范围内。7.如申请专利范围第3项之设备,其中该喷 嘴单位及清洁标的基片之中在任一个的垂直移动 在清洁步骤期间的执行次数是落在10到100次的范 围内。8.如申请专利范围第4项之设备,其中该每一 个该喷嘴导管的长度都是大于该清洁标的基片 的直径。图式简单说明: 第一图系显示一种习知制程的概要图示。 第二图系显示本发明实施例之配置的概要图示。 第三图A系用来显示清洁标的基片上的支持构件及 清洁部分的概要透视图。 第三图B系第三图A中支持构件的放大透视图。 第四图系从一边观测第二图中实施例一部分的图 示。 第五图和第六图分别是藉着比较习知制程与本发 明实施例以显示基片表面剩余粒子数目 的曲线图。 第七图是藉着比较习知制程与本发明实施例以显 示每单位时间内所清洁基板数目的曲线 图。
地址 日本