发明名称 TEST PATTERN OF SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 KR100268883(B1) 申请公布日期 2000.12.01
申请号 KR19980039497 申请日期 1998.09.23
申请人 HYUNDAI MICRO ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 KIM, HA JUNG
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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