首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 Anordnung zum Testen von ICs
摘要
申请公布号 DE19631340(C2) 申请公布日期 2000.11.30
申请号 DE19961031340 申请日期 1996.08.02
申请人 ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO 发明人 KIYOKAWA, TOSHIYUKI;FUKUMOTO, KEIICHI
分类号 G01R1/067;(IPC1-7):G01R31/28;H01L21/68 主分类号 G01R1/067
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com