发明名称 | 用于高温(1000℃)测试条件下的样品支架 | ||
摘要 | 一种用与高温(1000℃)测试条件下的样品支架,属于高温陶瓷测试装置领域。该样品支架的下横梁放有下电极片,上面放置被测样品,被测样品另一端面上有上电极片,电极片上有一截面相当的绝缘块,绝缘块上方有一人固定用耐热的螺丝,用以调节两电极片与被测样品的间距,上下横梁间的支架杆由耐热Al<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>陶瓷用螺丝连接,上、下电极片的形状和截面积应与被测样品相当。 | ||
申请公布号 | CN2408456Y | 申请公布日期 | 2000.11.29 |
申请号 | CN00216478.7 | 申请日期 | 2000.02.16 |
申请人 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | 发明人 | 周家光;王志超 |
分类号 | G01N27/00 | 主分类号 | G01N27/00 |
代理机构 | 上海华东专利事务所 | 代理人 | 潘振苏 |
主权项 | 1、一种用与高温(1000℃)测试条件下的样品支架,其特性在于(1)被测样品安放在下横梁中央,它与下横梁之间有下电极引片;(2)被测样品另一端面上有上电极片,电极片上有一个截面相当的绝缘块;(3)在绝缘块上方,有一耐热螺丝,它穿过上横梁中央,与被测试样呈垂直状态;(4)支架杆与上、下横梁螺丝连接,起支撑上、下横梁作用。 | ||
地址 | 200050上海市定西路1295号 |