| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung der Planheit eines Materialbandes sowie eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens. Das technische Problem besteht darin, die Bandlängung aus den Werten der Bandkontur zu berechnen und damit die Planheit zu bestimmen. Dieses Problem ist erfindungsgemäß durch ein Verfahren gelöst, bei dem aus den Änderungen der Steigungswerte, die an einer Mehrzahl von Meßpunkten gemessen werden, die Wellenlänge und die Phase dieser Änderungen berechnet werden. Daraus wird die Lage von mindestens einem Extremum berechnet, in dem die ermittelten Steigungswerte nur eine Querkomponente besitzen. Durch Aufsummieren der Steigungen wird eine Kontur berechnet, aus der die Amplitude berechnet wird. Aus der Wellenlänge und der Amplitude wird dann die Bandlängung als Maß für die Planheit des Materialbandes bestimmt. Ebenso betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens. <IMAGE></p> |
