Halbleiterbaustein für Burn-In-Testanordnung

摘要

Die Erfindung betrifft einen Halbleiterbaustein für eine Burn-In-Testanordnung, wobei im Halbleiterbaustein ein Regulator enthalten ist, der im eingeschalteten Zustand einer internen Schaltung des Halbleiterbausteines immer eine konstante niedrige Spannung zuführt. Der Halbleiterbaustein enthält zusätzlich ein Bauelement (1, 2), das nach Anlegen der Burn-In-Spannung für eine definierte Zeitdauer eine andere Kenngröße liefert als bei Anlegen der internen Spannung.