发明名称 | 在光记录介质中记录数据的方法与装置 | ||
摘要 | 本发明涉及光记录介质和光记录介质记录/回放装置与方法,用于管理可重写光记录介质中的缺陷区。具体地说,本发明把线性替代控制(LRC)位增加到次要缺陷列表(SDL)项中以区分根据线性替代算法列在SDL项的缺陷块信息和根据跳过算法列在SDL项的缺陷块信息,从而允许光记录介质记录/回放装置把正确的信息传送到主机。而且,当在备用区充满时在记录或回放数据时发现要求新的替代块的缺陷块时,不执行线性替代,LRC位与缺陷块的位置信息一起被设置在SDL项中以表示在备用区充满时得到相应的SDL项,从而以后再写入和再现数据时数据不被写入缺陷块或不读出缺陷块的数据。因此,本发明有效提高了对盘片的管理效率。 | ||
申请公布号 | CN1274462A | 申请公布日期 | 2000.11.22 |
申请号 | CN99801224.6 | 申请日期 | 1999.07.15 |
申请人 | LG电子株式会社 | 发明人 | 李明九;朴容澈;郑圭和;申种仁 |
分类号 | G11B20/18;G11B20/12;G11B20/10;G11B7/00;G11B20/00 | 主分类号 | G11B20/18 |
代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 余朦;李辉 |
主权项 | 1.一种带有管理光记录介质的缺陷的缺陷管理区(DMA)的光记录介质,包括DMA中的记录识别信息的一个区,其特征在于所述识别信息代表替代块是否已经根据线性替代被分配。 | ||
地址 | 韩国汉城 |