| 发明名称 |
A system and method for the inspection of dielectric materials |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
IE20000263(A1) |
申请公布日期 |
2000.11.15 |
| 申请号 |
IE20000000263 |
申请日期 |
2000.04.07 |
| 申请人 |
MV RESEARCH LIMITED |
发明人 |
ADRIAN BOYLE;PETER CONLON;MARK OWEN |
| 分类号 |
B23K1/00;G01N21/00;G01N21/64;(IPC1-7):G01N21/00 |
主分类号 |
B23K1/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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