发明名称 PROBES FOR A GAS PHASE ION SPECTROMETER
摘要 <p>L'invention concerne une sonde et un procédé de fabrication de cette sonde, laquelle peut être insérée de façon amovible dans un spectromètre d'ions en phase gazeuse. Ladite sonde comprend un substrat présentant une surface et une matière hydrogel déposée sur ladite surface. Ladite matière présente des fonctions de liaison qui lui permettent de se lier avec la substance à analyser, laquelle substance peut être détectée au moyen d'un spectromètre d'ions en phase gazeuse. L'invention concerne également une sonde et un procédé de fabrication de cette sonde, laquelle peut être insérée de façon amovible dans un spectromètre d'ions en phase gazeuse. Ladite sonde comprend un substrat présentant une surface et une pluralité de particules de diamètre identique déposées sur ladite surface. Lesdites particules présentent des fonctions de liaison qui leur permettent de se lier avec la substance à analyser, laquelle substance peut être détectée au moyen d'un spectromètre d'ions en phase gazeuse. En outre, l'invention concerne un dispositif comprenant une telle sonde, un spectromètre d'ions en phase gazeuse comprenant une source d'énergie qui dirige la lumière vers la surface de ladite sonde afin de désorber la substance à analyser ; et un détecteur, mis en contact avec la surface de ladite sonde, qui détecte la substance à analyser ainsi désorbée. L'invention concerne également un procédé de désorption d'une substance à analyser provenant d'une surface de la sonde. Ladite méthode consiste à mettre les fonctions de liaison en contact avec un échantillon contenant une substance à analyser dans des conditions permettant la liaison entre ladite substance et lesdites fonctions de liaison et à désorber, par spectrométrie d'ions en phase gazeuse, la substance à analyser provenant de la sonde.</p>
申请公布号 WO2000066265(A2) 申请公布日期 2000.11.09
申请号 US2000011452 申请日期 2000.04.27
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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