| 发明名称 | 空白检测电路和方法 | ||
| 摘要 | 提供一种空白检测电路和方法,该电路包含:边沿检测器,用于检测再现信号的边沿和检测所检测的各边沿之间的间隔;最大值/最小值检测器,用于响应于该边沿检测再现的信号的幅值并提供所检测的幅值的最大值或最小值;和判定器,用于根据在边沿检测器中检测的边沿间的间隔和/或在最大值/最小值检测器中所检测的最大值或最小值判定再现的信号是否为空白。由于快速检测从光盘读出的再现信号中的空白部分,提高了整个系统的可靠性。 | ||
| 申请公布号 | CN1271166A | 申请公布日期 | 2000.10.25 |
| 申请号 | CN00106461.4 | 申请日期 | 2000.04.11 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 朴贤洙 |
| 分类号 | G11B20/18;G11B7/005 | 主分类号 | G11B20/18 |
| 代理机构 | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人 | 马莹 |
| 主权项 | 1.一种用于检测从记录介质读出的再现信号中的空白的空白检测电路，该空白检测电路包含：边沿检测器，用于检测再现信号的边沿和检测所检测的各边沿之间的间隔；最大值/最小值检测器，用于响应于该边沿检测再现的信号的幅值并提供所检测的幅值的最大值或最小值；和判定器，用于根据在边沿检测器中检测的边沿间的间隔和/或在最大值/最小值检测器中所检测的最大值或最小值判定再现的信号是否为空白。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||