发明名称 Testschaltung auf einem Halbleiter-Chip
摘要
申请公布号 DE19742946(C2) 申请公布日期 2000.10.12
申请号 DE19971042946 申请日期 1997.09.29
申请人 SIEMENS AG 发明人 BLON, THOMAS
分类号 G01R31/3185;H01L23/544;(IPC1-7):G01R31/28;G01R31/26;H01L21/66 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
主权项
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