| 主权项 |
1.一种光学浓度测定装置,系将从1个红外线光源(O)所发出之测定光,使其透过干涉滤光镜(F1)而选择特定之波长,再将选择波长之测定光以选择性透过参照机构(C1)及试料单元(C2),而依1个受光器(R)检出该透过光,以测定试料单元内之试料的浓度之装置,其构成特征在于包含有:第1成像透镜(L1),系将从上述光源(O)所发出之测定光,成像于上述干涉滤光镜(F1)上之用;平行光(准直光)透镜(L2),系将于干涉滤光镜所选择之特定波长的测定光之光束,变成为平行测定光用;光学屏罩(M),系将平行测定光之光束分割为2个分割平行光束并予取出之用;光学快门(S),系切换2个分割平行光束之任一方而使其通过之用;参照机构(C1),系设置在第1分割平行光束之光路中;试料单元(C2),系设置在第2分割平行光束之光路中;及第2成像透镜(L3),系将透过参照机构(C1)及试料单元(C2)之各分割平行光束,成像于受光器(R)之用。2.如申请专利范围第1项所记载之光学浓度测定装置,其中,上述光学屏罩(M)为平板状,而其尚具有:光圈(M1.M2),系形成上述各分割平行光束,而其以光轴为对称并2个并列。3.如申请专利范围第1项所记载之光学浓度测定装置,其中,上述参照机构(C1)及试料单元(C2),系由形成将单元长度为相异并且互相连通之2个腔房的1个单元套筒所构成,其特征在于:参照机构(C1),系上述单元长度较短之第1腔房的部份;及试料单元(C2),系上述单元长度较长之第2腔房的部份。4.如申请专利范围第1项所记载之光学浓度测定装置,其中,乃在同一厚度之一个单元套筒内之一部份,插入折射率与试料为近似并且其吸光特性与试料相异之光折射率调整块规(A),而由于上述光折射率调整块规(A)介在于上述单元套筒内而形成为2个腔房,其特征在于含有:第1腔房,系单元长度较短,并作为参照单元(C1);及第2腔房,系具有与套筒之厚度相等之单元长度,并作为上述试料单元(C2)。5.如申请专利范围第1项所记载之光学浓度测定装置,其中,上述参照机构为玻璃块规(C')。6.如申请专利范围第1项所记载之光学浓度测定装置,其中,上述参照机构为环境空气本体。图式简单说明:第一图系双光束光学系统型式之习知装置的要部说明图;第二图系表示本发明之1实施态样有关的光学性浓度测定装置之光学系统的说明图;第三图系第二图之装置的作动说明图。而快门及平行光(率直光)透镜乃省略其表示;第四图系说明从光源所发出之光束的立体角之说明图;第五图系光学屏罩及快门之正面图;第六图系表示于第二图之装置所使用之单元的变形例图;第七图(I)、第七图(II)系分别表示于第二图之装置所使用之单元的其他变形例之要部图。 |
