双面测试治具之结构改良

摘要

一种双面测试治具之结构改良，系由一框座本体、两组测试组及接头所组成，该框座本体包含有一基座、上盖及隔离片，其中测试组系固定于基座内，该行程滑座则与基座固定之，其穿孔则供行程柱置放，并穿套弹簧作测试片之顶持定位，使呈夹持状，该上盖设有上、下二通孔其并由隔离片将之区隔，使其形成两分隔空间，可供测试元件插脚置放于两测试片间，再经由接头锁固并将测试结果，传至主机显示者。

主权项

1.一种双面测试治具之结构改良,系由一框座本体、两组测试组及接头所组成,该测试冶具包含有一基座、上盖及隔离片,其中测试组系固定于基座内,供作夹持元件用;其特征在于:基座上盖之通孔与两组测试组呈直线相通,可供元件置放,并将之夹持于测试片间,以弹簧将之顶持固定,使其可由接头固接于主机,采双面使用。2.如申请专利范围第1项所述之双面测试冶具之结构改良,其中测试治具上盖通孔部份,为相通之状态,可供清理及插脚穿透之用,并可双面交换使用。3.如申请专利范围第1项所述之双面测试治具之结构改良,其中测试组,由测试片呈相对状,形成一夹持器具,且以弹簧控制其松紧度。4.如申请专利范围第1项所述之双面测试治具之结构改良,其中接头板手,可配合任何符合测试端之量测仪表。