| 摘要 |
<p>La présente invention concerne un émetteur optique perfectionné, à moindre coût, et un procédé, destinés à un système de mesure tridimensionnel. Dans ce procédé de fabrication/assemblage, plusieurs paramètres opérationnels de l'émetteur sont étalonnés afin de produire des données uniques d'étalonnage pour chaque émetteur optique, comprenant des données définissant des angles des premier et second faisceaux rayonnant en éventail de chaque émetteur et l'angle entre les faisceaux lorsque l'émetteur est mis à niveau en vue de fonctionnement dans le système. Dans le système, un détecteur/récepteur permet de distinguer entre les faisceaux rayonnant de plusieurs émetteurs utilisables à l'intérieur d'un champ de mesure donné, en fonction des données d'étalonnage de vitesse de rotation, sélectivement modifiable, pour chacun des émetteurs, et les données d'étalonnage angulaire de chaque émetteur sont, lors du fonctionnement, disponibles pour chaque détecteur/récepteur utilisable.</p> |
