发明名称 半导体器件及其制造方法
摘要 在硅基板100内,由浅沟槽103所夹的区域里形成集电极层102,在基板上沉积第一沉积氧化膜108并开一个跨越浅沟槽的一部分的集电极开口部110。在露出于该开口部的基板上,使Si/Si<SUB>1-x</SUB>Ge<SUB>x</SUB>层外延生长。在基板上沉积第二沉积氧化膜112,而在Si/Si<SUB>1-x</SUB>Ge<SUB>x</SUB>层的部上形成基极开口部118;在端部形成基极结用开口部114。从该开口部114往基板内注入杂质离子,以形成导电型与外部电极相同的结漏电流防止层113。这样,使集电极开口宽度W3大于活性区宽度W2。
申请公布号 CN1267916A 申请公布日期 2000.09.27
申请号 CN00102992.4 申请日期 2000.03.14
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 浅井明;大西照人;高木刚;斋藤彻;原义博;幸康一郎;能泽克弥;神泽好彦;片上幸治;市川洋
分类号 H01L29/737;H01L27/24;H01L21/328;H01L21/70 主分类号 H01L29/737
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 汪惠民
主权项 1.一种半导体器件,其形成在半导体基板的活性区内,能用作双极型晶体管,其特征在于包括:器件隔离区,其形成在所述半导体基板的一部分并包围活性区;第1导电型集电极层,其形成在所述半导体基板内,由所述器件隔离区所夹的区域里;绝缘层,其形成在所述半导体基板上,具有跨越所述集电极层和器件隔离区的一部分的集电极开口部;第2导电型基极层,其形成在所述集电极开口部内的所述半导体基板上及所述绝缘层上,包含内部基极和包围该内部基极的外部基极;以及形成在所述内部基极上的第1导电型发射极层。
地址 日本大阪府