| 摘要 |
<p>본 고안은 테스트 보드에 관한 것으로, 종래 기술에 있어서 테스터의 동축 케이블과 디바이스의 임피던스에 불일치가 발생되는 경우, 마이크로 웨이브 전송 특성상 신호의 반사성분이 생김에 따라 상기 반사 성분에 의해 인가되는 테스트 신호에 왜곡이 발생됨으로써, 정상적인 테스팅 동작에 오류가 발생하게 되며, 또한, 임피던스값이 다른 디바이스를 상기 테스트 보드에 삽입하여 테스트 하고자 하면, 상기 임피던스를 매칭시키기 위하여 상기 테스트 보드의 로드 레지스터를 교체함에 따라 추가적인 비용이 소요되는 문제점이 있었다. 따라서, 본 고안은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 고속 테스트시 테스트 보드 상의 신호선의 임피던스값을 용량이 고정된 레지스터가 아닌 레지스터값의 변경이 가능한 가변 레지스터를 이용하여 상기 테스트 보드의 임피던스값을 변동시켜 테스터의 동축 케이블의 임피던스와 정확히 매칭시킴으로써, 테스트 신호의 반사를 최소화하여 고속 디바이스의 성능을 정확히 테스트함과 아울러 임피던스값이 다른 디바이스의 테스트시에도 상기 가변 레지스터의 임피던스를 조정하여 테스트 보드를 새로 제작할 필요가 없어 비용을 절감하는 효과가 있다.</p> |
