Paralleltestschaltung für einen Halbleiter-Speicherchip

摘要

Eine Paralleltestschaltung eines Halbleiter-Speicherchips weist eine Begrenzungseinrichtung zum Begrenzen der Anzahl an Ausgangsanschlußflächen auf, welche das Ausgangssignal der Testschaltung übertragen, sowie eine Steuerung zur Bereitstellung eines Steuereingangssignals zum Steuern der Begrenzungseinrichtung, und die Schaltung kann sowohl in einem Wafer-Test für sämtliche Ausgangsanschlußflächen als auch in einem Gehäuse-Test für eine reduzierte Anzahl der Ausgangsanschlußflächen verwendet werden.