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<p>Es wird ein Verfahren zur Zustellung einer Probe oder eines Schneidmessers über einen Zustellschlitten in eine Schnittebene eines Mikrotoms, insbesondere in die Schnittebene eines Scheibenmikrotoms, beschrieben. Bei diesem Verfahren wird der Zustellschlitten über einen motorischen Antrieb bewegt. Über den motorischen Antrieb wird der Zustellschlitten auf einen Flächensensor zugestellt. Beim Kontakt der Probenoberfläche mit dem Flächensensor wird die Position des motorischen Antriebs ermittelt und mit einer abgespeicherten Position der Schnittebene verglichen. Aus den beiden Positionswerten werden Steuersignale für den motorischen Antrieb berechnet und der Zustellschlitten unter Berücksichtigung dieser Steuersignale mit dem motorischen Antrieb in die Schnittebene zugestellt.</p> |
