| 发明名称 | 测试片支架及用于去除其上多余分析物的装置 | ||
| 摘要 | 一种测试片支架(2)包括一细长顶表面和一对位于顶表面下面的侧表面(24)。顶表面上设置有一由细长底壁(21)和一对凸脊(22)限定的测试片固定槽(20),每个凸脊从该壁(21)的各个纵向边缘隆起,形成有多个上部毛细管槽(41),该毛细管槽竖直延伸,开口于测试片固定槽(20)。该底壁(21)形成有多个毛细管孔(42),该毛细管孔与上部毛细管槽(41)相对应和相连通,向各个侧表面(24)开口。 | ||
| 申请公布号 | CN1266187A | 申请公布日期 | 2000.09.13 |
| 申请号 | CN00102865.0 | 申请日期 | 2000.03.06 |
| 申请人 | 株式会社京都第一科学 | 发明人 | 仲道男;山形秀成;平山浩二 |
| 分类号 | G01N33/52 | 主分类号 | G01N33/52 |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 姜丽楼 |
| 主权项 | 1、一种测试片支架，其包括一个细长顶表面和一对位于该顶表面下面的侧表面(24)，该顶表面上设置有一个由细长底壁(21)和一对凸脊(22)限定的测试片固定槽(20)，每个凸脊从该底壁(21)的各个纵向边缘隆起，其特征在于，每个凸脊(22)形成有多个上部毛细管槽(41)，该毛细管槽竖直延伸，开口于测试片固定槽(20)，该底壁(21)形成有多个毛细管孔(42)，该毛细管孔与上部毛细管槽(41)相对应和相连通，该毛细管孔(42)向各个侧表面(24)开口。 | ||
| 地址 | 日本国京都府 | ||